多晶硅通常通過600-650時熱分解硅烷制的,在MOS器件中可用作柵極材料,在多層布線中可作為導電材料,也可作為淺結器件的接觸材料。
二氧化硅介質材料通常用作導電層絕緣、擴散和離子植入時的淹膜、摻雜氧化物的擴散、對雜質進行吸雜及保護元器件。
氮化硅能阻擋鈉離子的擴散,幾乎不透氣及具有很低的氧化速率,主要作為氧化掩膜及柵極介質。
CVD Film | Raw Material |
SiO2 | SiH4+CO2+H2 |
SiCl2H2+N2O | |
SiH4+H2O | |
SiH4+NO | |
Si(OC2H5)4 | |
SiH4+O2 | |
SiH4+NO2 | |
Si3N4 | SiH4+NH3 |
SiCl2H2+NH3 | |
SiH4+N2 | |
Si | SiH4 |